离子迁移谱(IMS)是根据离子在气相电场中迁移速度的差异来对物质进行定性和定量检测的一项痕量化学分析技术,与一些传统仪器仪表相比,它具有分析能力强、使用成本低、检测速度快、灵敏度高(ppb—ppm级)等众多优势,无需化学试剂前处理即可对多种气体成分进行快速定性和定量分析。
离子迁移谱应用领域广泛,能转换为气体分子的物质大都能采用该技术来检测。目前离子迁移谱技术在军事、反恐、安全等领域应用较为广泛,在司法、医学、生物、工业、环境、食品安全检测等领域应用前景广阔。
经过近5年的研究与开发,长春光机所光电研发中心已掌握离子迁移谱的离子门、漂移管、高速微弱离子流探测等核心关键技术,申请了3项相关发明专利(专利号分别为:201410782447.9、201410781908.0和201410782486.9),开发出了放射性光离子化源离子迁移谱仪器样机,样机的时间分辨率(半峰宽度)达到了0.4ms,对苯的检测限接近0.1mg/m3。