科技计划:
成果形式:新技术
合作方式:技术转让、技术开发、技术咨询、技术服务、技术入股
参与活动:
专利情况:
正在申请 ,其中:发明专利 1 项
已授权专利,其中:发明专利 0 项
专利号:
201410307268.X
成果简介
成果概况
本发明为减反膜、光电子器件及其制作方法,可开展的技术应用为III-V电池或薄膜电池
创新要点
入射光在介质微纳结构中以高阶衍射形式进入介质材料,并进一步满足高阶衍射角大于其临界角。从而使得高阶衍射光进一步以导模形式耦合进入半导体层材料,直至完全吸收,降低其零级衍射成分,从而避免了多次散射造成的反射,也突破了介质微纳结构/半导体层之间高的界面反射对整个结构表面反射的影响。
主要技术指标
无
其他说明
完成人信息
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