科技计划:
成果形式:新技术、新产品
合作方式:
参与活动:
专利情况:
未申请专利
成果简介
成果概况
XTDIC系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便捷、速度快、精度高、易操作等特点。
创新要点
1、获得全场的三维坐标、位移、应变数据2、测量结果三维显示3、适用于大部分材料4、快速、简单、高精度的系统标定5、测量幅面可自由调节:从几个毫米到几米的范围6、应变精度0.005%7、应变测量范围:从最小0.01%到大于1000%的范围8、采集频率自由调节9、多线程运算,计算速度更快10、支持32位、64位操作系统
主要技术指标
其他说明
与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量。系统目前广泛的应用于生物力学、动态应变测量、攻速变形测量、断裂力学、及动态材料试验中测量材料特性参数等。系统具有速度快,精度高等特点,对于微结构体的力学性能测试具有重要意义。
完成人信息
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