半导体器件自动测量系统

成果编号：11824

价格：面议

完成单位：兰州大学

单位类别：985系统院所、211系统院所

完成时间：2014年

成熟程度：小批量生产阶段

服务产业领域：电子信息、装备制造

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发布人：彭应全离线

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我国微电子、光电子产业规模庞大，技术研发能力不断增强，对半导体器件测量系统的市场需求非常大。当前，国内企业、科研单位长期依赖于国外进口产品。这些进口产品虽然通用性强，但价格昂贵，功能单一，且控制软件不开放，用户无法根据自己需要更改。我们团队在多年研究半导体器件的基础上研制成功了基于个人计算机的新型半导体器件特性自动测量系统，具有自动化程度高、控制软件可根据用户需要定制的优点。其主要单项技术指标已接近国外进口产品，完全能够满足绝大部分半导体器件的生产和科学研究的需要。本测量系统适用于各种中小功率二端器件（各种二极管，太阳能电池）、三端器件（三极管、场效应管）和四端器件（如双栅场效应管）的测量。市场空间巨大，利润率高。

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成果介绍

科技计划：

成果形式：新技术、新产品

合作方式：技术转让、技术开发、共建载体

参与活动：

专利情况：正在申请 ,其中:发明专利 0 项
已授权专利,其中:发明专利 1 项
专利号:
ZL201010162152.3

成果简介

成果概况

创新要点

本项成果的创新要点在于，半导体器件自动测量系统包括数据采集板组、高输出电压直流放大电路、输入弱电流放大电路、放大倍数自动调节电压放大电路、程控限流电路和运行在Windows下的控制软件。

主要技术指标

输出电压通道数：2（可扩展）；输出电压范围：0~200V；输入电流测量通道数：2（可扩展）；输入电流范围0.1 nA~50 A；扫描方式：正向扫描；反向扫描；锯齿波扫描；恒定电压输出时间扫描（可扩展外部信号控制扫描，如光控、磁控和温控，等）。

其他说明

完成人信息

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