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射频识别标签芯片测试与逻辑设计技术

成果编号:06595
价格:面议
完成单位:南通大学
单位类别:其他高校
完成时间:2014年
成熟程度:研制阶段
服务产业领域: 电子信息
发布人:景为平 离线
射频识别(Radio Frequency Identification,RFID)是通过无线射频方式获取物体的相关数据,并对物体加以识别,是一种非接触式的自动识别技术。RFID标签芯片由于面积小无源功能复杂,造成测试时间长测试成本高。本成果研发了一套快速并行测试技术,减少了测试时间,降低了测试成本。
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成果介绍

科技计划:
成果形式:新技术
合作方式:技术开发
参与活动:
专利情况: 正在申请 ,其中:发明专利 2
已授权专利,其中:发明专利 0
成果简介
成果概况
射频识别(Radio Frequency Identification,RFID)是通过无线射频方式获取物体的相关数据,并对物体加以识别,是一种非接触式的自动识别技术。RFID标签芯片由于面积小无源功能复杂,造成测试时间长测试成本高。本成果研发了一套快速并行测试技术,减少了测试时间,降低了测试成本。
创新要点
利用上位机、FPGA开发板及自主研发的外围配套电路及相关接口,建立自动化测试的高密度多通道晶圆测试平台,可以实现较低成本的高密度多通道晶圆检测工作。采用并行测试方法,在降低硬件成本的基础上,研究上位机自动化测试软件。通过软件完成测试数据的编解码,协调整个测试系统的工作流程,使测试平台更加稳定并具有一定的灵活性。
主要技术指标
测试速度:每小时20000颗以上, 测试准确率:99%以上。
其他说明
可合作共同设计RFID标签芯片数字逻辑单元、存储器单元、数字逻辑单元版图、数字逻辑单元验证程序。
完成人信息
姓名:对接成功后可查看
所在部门:对接成功后可查看
职务:对接成功后可查看
职称:对接成功后可查看
手机:对接成功后可查看
E-mail:对接成功后可查看
电话:对接成功后可查看
传真:对接成功后可查看
邮编:对接成功后可查看
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联系人信息
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