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需求所属领域：电子信息

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拟投入资金额： 200万元

参加活动：第二届江苏产学研合作对接大会

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发布人：江苏嘉兆电子有限公司离线

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技术背景：CP晶圆测试是指在wafer级别对晶片上的每个晶粒进行测试。通过测试机+探针台+探针卡构成完整的测试硬件系统，测试晶粒的功能以及所有其他电性特性，筛选出合格/不合格品。随着半导体制造工艺的进步，芯片的性能提高，对测试的要求也在迅速提高，在测试性能，效率，稳定性这三方面不断提出新的要求和挑战。技术问题： 1、需求增加同测数，提高测试效率。EVA100测试机台具有256IO资源，我们进行了测试机二合一的升级，可以支持需求512IO资源的测试。现需求进一步四合一升级，支持1024IO资源的测试，提高测试性能； 2、需求设计出支持200mhz频率测试的通用针卡PCB公板，兼容更多产品。通过设计出公板，可以避免每个产品单独设计测试硬件，有效的降低测试成本。 3,、需求改进测试硬件，提高低温测试稳定性和效率。越来越多的产品提出了低温测试的需求，所以需要架设一个稳定和易操作的低温环境，进行批量低温测试生产。但由于测试硬件是由测试机+探针台+探针卡三者组合而成，每次独立的setup有造成密封性异常的风险，出现密封异常会引起测试硬件局部结霜，进而导致芯片DC测试的不稳定。当前正在设计额外的干燥器件，在干燥密封的环境上，额外提供干燥的气体，包裹测试硬件，进一步降低水汽含量，降低结霜风险，提高测试稳定性。

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需求详情

技术介绍

需求项目简述
技术背景：CP晶圆测试是指在wafer级别对晶片上的每个晶粒进行测试。通过测试机+探针台+探针卡构成完整的测试硬件系统，测试晶粒的功能以及所有其他电性特性，筛选出合格/不合格品。随着半导体制造工艺的进步，芯片的性能提高，对测试的要求也在迅速提高，在测试性能，效率，稳定性这三方面不断提出新的要求和挑战。技术问题： 1、需求增加同测数，提高测试效率。EVA100测试机台具有256IO资源，我们进行了测试机二合一的升级，可以支持需求512IO资源的测试。现需求进一步四合一升级，支持1024IO资源的测试，提高测试性能； 2、需求设计出支持200mhz频率测试的通用针卡PCB公板，兼容更多产品。通过设计出公板，可以避免每个产品单独设计测试硬件，有效的降低测试成本。 3,、需求改进测试硬件，提高低温测试稳定性和效率。越来越多的产品提出了低温测试的需求，所以需要架设一个稳定和易操作的低温环境，进行批量低温测试生产。但由于测试硬件是由测试机+探针台+探针卡三者组合而成，每次独立的setup有造成密封性异常的风险，出现密封异常会引起测试硬件局部结霜，进而导致芯片DC测试的不稳定。当前正在设计额外的干燥器件，在干燥密封的环境上，额外提供干燥的气体，包裹测试硬件，进一步降低水汽含量，降低结霜风险，提高测试稳定性。

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